书目信息 |
| 题名： |
超大规模集成电路测试
|
|
| 作者： | 雷绍充 ， 邵志标 ， 梁峰 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2008 |
|
| 页数： | 12, 319页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN470.7 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 超大规模集成电路--chao da gui mo ji cheng dian lu--测试技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-06307-7 | |
| 000 | 01025nam0 2200253 450 | |
| 001 | 212004043496 | |
| 010 | @a978-7-121-06307-7@dCNY45.00@z7-121-06307-7 | |
| 100 | @a20090907d2008 am y0chiy0121 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aa z 000yy | |
| 106 | @ar | |
| 200 | 1 | @a超大规模集成电路测试@Achao da gui mo ji cheng dian lu ce shi@f雷绍充, 邵志标, 梁峰编著 |
| 210 | @a北京@c电子工业出版社@d2008 | |
| 215 | @a12, 319页@c图@d26cm | |
| 330 | @a本书主要内容包括电路测试基础, 验证、模拟和仿真, 自动测试生成, 专用可测性设计, 扫描设计, 边界扫描法, 随机测试和伪随机测试, 内建自测试, 电流测试, 存储器测试, SoC测试。 | |
| 333 | @a使用对象: 高等院校学生, 从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员 | |
| 606 | 0 | @a超大规模集成电路@Achao da gui mo ji cheng dian lu@x测试技术 |
| 690 | @aTN470.7@v4 | |
| 701 | 0 | @a雷绍充@Alei shao chong@4编著 |
| 701 | 0 | @a邵志标@Ashao zhi biao@4编著 |
| 701 | 0 | @a梁峰@Aliang feng@4编著 |
| 801 | 0 | @aCN@b海天@c20090914 |
| 905 | @a@dTN470.7@eL079@fTN470.7/L079 | |
| 超大规模集成电路测试/雷绍充, 邵志标, 梁峰编著.-北京：电子工业出版社，2008 |
| 12, 319页：图；26cm |
| 使用对象：使用对象: 高等院校学生, 从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员 |
| ISBN 978-7-121-06307-7：CNY45.00 |
| 本书主要内容包括电路测试基础, 验证、模拟和仿真, 自动测试生成, 专用可测性设计, 扫描设计, 边界扫描法, 随机测试和伪随机测试, 内建自测试, 电流测试, 存储器测试, SoC测试。 |
| ● |
| 相关链接 |
|
|
|
正题名：超大规模集成电路测试
索取号：TN470.7/L079
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 880978 | 208809789 | 自科库301/301自科库 36排4列2层/ [索取号:TN470.7/L079] | 在馆 | |
| 2 | 880979 | 208809798 | 自科库301/301自科库 21排2列5层/ [索取号:TN470.7/L079] | 在馆 | |
| 3 | 880980 | 208809805 | 自科库301/301自科库 36排4列2层/ [索取号:TN470.7/L079] | 在馆 |