书目信息 |
| 题名： |
超大规模集成电路测试
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| 作者： | 雷绍充 ， 邵志标 ， 梁峰 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2008 |
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| 页数： | 12, 319页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN470.7 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 超大规模集成电路--chao da gui mo ji cheng dian lu--测试技术 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-06307-7 | |
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| 330 | @a本书主要内容包括电路测试基础, 验证、模拟和仿真, 自动测试生成, 专用可测性设计, 扫描设计, 边界扫描法, 随机测试和伪随机测试, 内建自测试, 电流测试, 存储器测试, SoC测试。 | |
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| 超大规模集成电路测试/雷绍充, 邵志标, 梁峰编著.-北京：电子工业出版社，2008 |
| 12, 319页：图；26cm |
| 使用对象：使用对象: 高等院校学生, 从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员 |
| ISBN 978-7-121-06307-7：CNY45.00 |
| 本书主要内容包括电路测试基础, 验证、模拟和仿真, 自动测试生成, 专用可测性设计, 扫描设计, 边界扫描法, 随机测试和伪随机测试, 内建自测试, 电流测试, 存储器测试, SoC测试。 |
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正题名：超大规模集成电路测试
索取号：TN470.7/L079
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 880978 | 208809789 | 自科库301/301自科库 21排1列4层/ [索取号:TN470.7/L079] | 在馆 | |
| 2 | 880979 | 208809798 | 自科库301/301自科库 21排2列5层/ [索取号:TN470.7/L079] | 在馆 | |
| 3 | 880980 | 208809805 | 自科库301/301自科库 21排1列4层/ [索取号:TN470.7/L079] | 在馆 |