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@a北京@c电子工业出版社@d2008
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@a12, 319页@c图@d26cm
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@a本书主要内容包括电路测试基础, 验证、模拟和仿真, 自动测试生成, 专用可测性设计, 扫描设计, 边界扫描法, 随机测试和伪随机测试, 内建自测试, 电流测试, 存储器测试, SoC测试。
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@a使用对象: 高等院校学生, 从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员
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@a@dTN470.7@eL079@fTN470.7/L079
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| 超大规模集成电路测试/雷绍充, 邵志标, 梁峰编著.-北京：电子工业出版社，2008 |
| 12, 319页：图；26cm |
| 使用对象：使用对象: 高等院校学生, 从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员 |
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| ISBN 978-7-121-06307-7：CNY45.00 |
| 本书主要内容包括电路测试基础, 验证、模拟和仿真, 自动测试生成, 专用可测性设计, 扫描设计, 边界扫描法, 随机测试和伪随机测试, 内建自测试, 电流测试, 存储器测试, SoC测试。 |
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正题名：超大规模集成电路测试
索取号：TN470.7/L079
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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880978
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208809789
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自科库301/301自科库 28排2列4层/
[索取号:TN470.7/L079]
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在馆
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2
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880979
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208809798
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自科库301/301自科库 21排2列5层/
[索取号:TN470.7/L079]
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在馆
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3
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880980
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208809805
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自科库301/301自科库 28排2列4层/
[索取号:TN470.7/L079]
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在馆
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