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000
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100
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@achi@ceng
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102
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200
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1
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@a嵌入式软件测试@Aqian ru shi ruan jian ce shi@dTesting embedded software@f(美)布鲁克曼(Bart Broekman), (美)Edwin Notenboom著@g张君施, 张思宇, 周承平译@zeng
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210
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@a北京@c电子工业出版社@d2004.1
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215
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@a312页@c图, 表格@d24cm
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320
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@a书末附参考文和附录
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510
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1
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606
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0
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@a软件@x测试
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1
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@a布鲁克曼@Abu lu ke man@bB.@4著
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A1
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A1
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@a周承平@Azhou cheng ping@4译
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@aCN@bQSSKxf@c20050106
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905
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| 嵌入式软件测试=Testing embedded software/(美)布鲁克曼(Bart Broekman), (美)Edwin Notenboom著/张君施, 张思宇, 周承平译.-北京：电子工业出版社，2004.1 |
| 312页：图, 表格；24cm |
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| ISBN 7-5053-9368-5：CNY 35.00 |
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| ● |
正题名：嵌入式软件测试
索取号：TP311.5/B9821
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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434877
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204348777
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期刊室512/301自科库 42排2列1层/
[索取号:TP311.5/B9821]
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在馆
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2
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434878
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204348786
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期刊室512/301自科库 42排2列1层/
[索取号:TP311.5/B9821]
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在馆
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|
3
|
434879
|
204348795
|
自科二线504/504自科库 31排4列4层/
[索取号:TP311.5/B9821]
|
在馆
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